首页 关于微晶 新闻中心 产品中心 技术支持 交流论坛 诚聘英才 联系我们
倒装焊优势
模组介绍
封装指导
可靠性试验
 
您现在的位置:技术支持 > 封装指导
 
可靠性试验
 

 

APT产品可靠性测试报告

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
A1818
120mA
 22~28
远方PMS-50
 
18mil  A系列产品的标准电流老化测试
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
A1818
150mA
 22~28
远方PMS-50
 
18mil  A系列产品的大电流老化测试
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
A2424
150mA
 22~28
远方PMS-50
 
24mil  A系列产品的标准电流老化测试
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
A2424
250mA
 22~28
远方PMS-50
 
24mil  A系列产品的大电流老化测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
B2424
150mA
 22~28
远方PMS-50
 
24mil  B系列产品的标准电流老化测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
B4040
350mA
 22~28
远方PMS-50
 
40mil  B系列产品的标准电流老化测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品系列
测试电流
环境温度 C
测试设备
B4040
500mA
 22~28
远方PMS-50
 
40mil  B系列产品的大电流老化测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
 
联系我们 | 诚聘英才 | 网站地图
Copyright © 2007 APT Ltd 粤ICP备:07021085号
联系电话: 020-34684266 020-34684566 传真:34684977
地址:广州市南沙区南沙资讯科技园软件楼南A1栋101